ФРАКТАЛЬНИЙ АНАЛІЗ ПОВЕРХОНЬ НАНО- І МІКРОСТРУКТУР ZnO, ОТРИМАНИХ РІЗНИМИ МЕТОДАМИ

Lilia Hrytsak, B. Turko, R. Serkiz, V. Kapustianyk, А. Vaskiv

Анотація


Проведено фрактальний аналіз поверхонь отриманих різними методами мікроструктур, наностержнів, мікрогранул та нанодротів на основі ZnO. Проілюстровано залежність значень фрактальної розмірності та ефективної площі поверхні від методу синтезу, типу структури та характериcтичних розмірів елементів мікро- і наноструктур ZnO. Аналіз отриманих результатів засвідчив, що усім дослідженим об’єктам притаманні фрактальні розмірності ≥ 2,5, що дуже привабливо для структур, перспективних для використання у фотокаталітичному методі очищення води, в сенсорній та фотоелектронній техніці. Найбільше значення фрактальної розмірності та співвідношення площі поверхні до площі проекції притаманне наностержням та нанодротам ZnO, синтезованим гідротермічним методом і методом електронного розпилення у вакуумі, відповідно.

Ключові слова: наноструктури, мікроструктури, фрактальна розмірність, фотокаталіз.


Повний текст:

PDF

Посилання


Abrinaei F. Investigation of growth dynamics of nanostructured aluminum doped zinc oxide thin films deposited for the solar cell applications / F. Abrinaei, M. Shirazi, M. T. Hosseinnejad // J. Inorg. Organomet. Polym. ‒ 2016. ‒ Vol. 26. ‒ P. 233-241.

Kim J. Growth dynamics of ZnPc and TiOPc thin films: effect of crystallinity on anomalous scaling behavior /J Kim, N. Lim, C. R Park , S. Yim // Surf. Sci. ‒ 2010. ‒ Vol. 604. ‒ P. 1143-1147.

Raoufi D. Fractal analyses of ITO thin films: a study based on power spectral density / D Raoufi // Phys. B. ‒ Vol. 405. ‒ P. 451-455.

Капустяник В. Б. Природа фотолюмінесценції наноструктур на основі оксиду цинку / В. Б Капустяник, М. Р. Панасюк, Б. І. Турко, Г. О. Лубочкова, Р. Я. Серкіз, Ю. Г. Дубов // Фізика і хімія твердого тіла. ‒ 2009. ‒ Т. 1. ‒ С. 112-116.

Kapustianyk V. B. Superhydrophobic/superhydrophilic switching on the surface of ZnO microstructures caused by UV irradiation and argon ion etching process / V. B. Kapustianyk, B. I. Turko, Y. V. Rudyk, R. Y. Serkiz, U. R. Mostovyi. // J. Surf. Phys. Engineer. ‒ 2016. ‒ Vol. 1. ‒ P. 207-212.

Kapustianyk V. Exciton spectra of the nanostructured zinc oxide / V. Kapustianyk, M. Panasiuk, G. Lubochkova, B. Turko, V. Rudyk, M. Partyka, R. Serkiz, D. Voznyuk // J. Phys. Stud. ‒ 2008. ‒ Vol. 12. ‒ Art. 2602 (6 p.).

Kapustianyk V. Effect of vacuumization on the photoluminescence and photoresponse decay of the zinc oxide nanostructures grown by different methods / V. Kapustianyk, B. Turko, V. Rudyk , Y. Rudyk , M. Rudko , M. Panasiuk , R. Serkiz // Optical Materials. ‒ 2016. ‒ Vol. 56. ‒ P. 71-74.

Pavelescu D. On the roughness fractal character, the tribological parameters and the error factors / D. Pavelescu, A. Tudor // Proceedings of the Romanian Academy.Ser. A. ‒ 2004. Vol. 5. ‒ P. 1-6.

Qiang T. Correlation between fractal dimension and impact strength for wood plastic composites / T. Qiang, D. M. Yu // Advanced. Mater.Res. ‒ 2011. ‒ Vol. 411. ‒ P. 548-551.

Klapetek P., Necas D., Anderson Ch. Gwyddion user guide. ‒ 2019-11-11.

Бавыкин О. Б., Вячеславова О. Ф. Фрактальный анализ поверхностного слоя материала / О. Б. Бавыкин, О. Ф. Вячеславова. – М.:, 2013. ‒ 110 c.

Jing C. Ga-doped ZnO thin film surface characterization by wavelet and fractal analysis / C. Jing, W. Tang // Appl. Surf. Sci. ‒2016. ‒ Vol. 364. ‒ P. 843-849.

Raoufi D. Morphological characterization of ITO thin films surfaces / D Raoufi // Appl. Surf.Sci. ‒2009. ‒ Vol. 255. ‒ P. 3682-3686.

Solookinejad Gh. Zinc Oxide Thin Films Characterization, AFM, XRD and X-ray / Gh. Solookinejad, A. S. H. Rozatian, M. H. Habibi // Experimental Techniques. ‒2016. ‒ Vol. 40. ‒ P. 1297-1306.

Xagas A. P. Preparation, fractal surface morphology and photocatalytic properties of TiO2 films / A. P. Xagas, E. Androulaki , A. Hiskia , P. Falaras // Thin Solid Films. ‒1999. ‒ Vol. 357. P. 173-178.




DOI: http://dx.doi.org/10.30970/eli.15.9

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.