НОВІ ТЕРНАРНІ СИЛІЦИДИ TmCu 0,05 Si 1,66 ТА TmCu 0,09 Si 1,91

Анотація

Рентгенівським дифракційним  методом порошку (дифрактометр ДРОН–3М, проміння CuKα)  визначено  кристалічні  структури  нових  тернарних  силіцидів  TmCu _0,05 Si _1,66   та TmCu _0,09 Si _1,91 , які належать до близькоспоріднених структурних типів α-GdSi ₂  (символ ПірсонаoI12, просторова група Imma, a = 3,95437(16), b = 3,90963(16), c = 13,3288(5) Å, R B  = 0,0555, R _f  = 0,0528) та α-ThSi ₂  (tI12, I4 1 /amd, a = 3,93410(7), c = 13,3891(2) Å, R B  = 0,0559, R f  = 0,0424),відповідно.  Проаналізовано  взаємозв’язок  структур  досліджених  сполук  між  собою  та  зі структурним типом AlB ₂ .

 Ключові слова: Тулій, Купрум, Силіцій, рентгенівська порошкова дифракція, тернарна сполука, кристалічна структура.