Системи RECu1-xGaxIn (RE = La,
Ce) при 870 К
Chem. Met. Alloys 13 (2020) 1-7
https://doi.org/10.30970/cma13.0395
Наталія Домінюк, Галина НИЧИПОРУК, Ігор МУЦЬ, Василь ЗАРЕМБА
Взаємодію між компонентами у системах RECu1-хGaxIn (RE = La,
Ce) при 870 К досліджено
методами рентгенівської дифракції та локального ЕДР аналізу у повному
концентраційному інтервалі. Протяжності твердих розчинів, кристалічну структуру
та зміни параметрів елементарних комірок було визначено для: LaCu1,00-0,80Ga0-0,20In
(структурний тип ZrNiAl): a = 755,0–752,0(1), c = 428,0–430,4(1) пм; СеCu1,00-0,80Ga0-0,20In
(структурний тип ZrNiAl): а = 749,2–744,4(1),
с = 424,5–431,1(1) пм;
LaCu0,50-0,25Ga0,50-0,75In (структурний тип CaIn2): а = 473,2(1)–479,5(1), с = 783,2(2)–792,7(2) пм;
СеCu0,70-0,25Ga0,30-0,75In (структурний тип CaIn2): а = 472,0(1)–478,1(1), с = 766,5(2)–784,7(2) пм.
Кристалічну структуру сполуки LaCu0,40Ga0,60In досліджено
методом рентгенівської дифракції на монокристалі (Mo Kα-проміння): структурний тип CaIn2, P63/mmc,
hP6, a = 473,6(1),
c = 786,6(2) пм, R1 = 0,0390 для107 значень F2 та 7 змінних.
Спостережена, розрахована та різницева рентгенівські дифрактограми сплаву CeCu0,5Ga0,5In (Cu Kα1-проміння).
Ключові слова
Індид / Твердий розчин / Порошкова дифракція / Монокристал/ Кристалічна
структура