Системи RECu_1-xGa_xIn (RE = La, Ce) при 870 К

Chem. Met. Alloys 13 (2020) 1-7

https://doi.org/10.30970/cma13.0395

Наталія Домінюк, Галина НИЧИПОРУК, Ігор МУЦЬ, Василь ЗАРЕМБА

Взаємодію між компонентами у системах RECu_1-хGa_xIn (RE = La, Ce) при 870 К досліджено методами рентгенівської дифракції та локального ЕДР аналізу у повному концентраційному інтервалі. Протяжності твердих розчинів, кристалічну структуру та зміни параметрів елементарних комірок було визначено для: LaCu_1,00-0,80Ga_0-0,20In (структурний тип ZrNiAl): a = 755,0–752,0(1), c = 428,0–430,4(1) пм; СеCu_1,00-0,80Ga_0-0,20In (структурний тип ZrNiAl): а = 749,2–744,4(1), с = 424,5–431,1(1) пм; LaCu_0,50-0,25Ga_0,50-0,75In (структурний тип CaIn₂): а = 473,2(1)–479,5(1), с = 783,2(2)–792,7(2) пм; СеCu_0,70-0,25Ga_0,30-0,75In (структурний тип CaIn₂): а = 472,0(1)–478,1(1), с = 766,5(2)–784,7(2) пм. Кристалічну структуру сполуки LaCu_0,40Ga_0,60In досліджено методом рентгенівської дифракції на монокристалі (Mo Kα-проміння): структурний тип CaIn₂, P6₃/mmc, hP6, a = 473,6(1), c = 786,6(2) пм, R₁ = 0,0390 для107 значень F² та 7 змінних.

Спостережена, розрахована та різницева рентгенівські дифрактограми сплаву CeCu_0,5Ga_0,5In (Cu Kα₁-проміння).

Ключові слова

Індид / Твердий розчин / Порошкова дифракція / Монокристал/ Кристалічна структура